Přeskočit na obsah
Scanning electron microscopy and its applications for sensitive samples — obálka

Scanning electron microscopy and its applications for sensitive samples

Rastrovací elektronová mikroskopie a její aplikace pro sensitivní vzorky : zkrácená verze Ph.D. Thesis

Věcné třídění

Bibliografické údaje

Další název
Rastrovací elektronová mikroskopie a její aplikace pro sensitivní vzorky
Vydáno
2019
Místo vydání
Brno
Jazyk
Angličtina
Ilustrace
ilustrace

Vydání

  • Formát: Tištěná kniha
    Brožovaná vazba

    ISBN 978-80-214-5818-5 (brožováno)

    Vydáno:

    Typ obsahu
    Text
    Skladba produktu
    Jednosložkový maloobchodní produkt
    Stav vydání
    Neurčeno

Obsahy

Významná vlastnost

V publikaci uvedeno: Brno : Vysoké učení technické v Brně

Významná vlastnost

Zkrácená verze disertace (Ph.D.)--Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrství, Ústav fyzikálního inženýrství, 2019

Významná vlastnost

"Obor Fyzikální inženýrství"

Doporučení

Obsahuje bibliografie

Související tituly

Od stejného autora

Zobrazit vše

Od stejného nakladatele

Zobrazit vše