ReČeK

Externí odkazy

Hledat v Souborném katalogu ČRHledat na Knihovny.cz

Nanometrology scanning probe microscopy and related techniques

Tománek PaveleditorAutoritní záznam NK ČRSpajer MicheleditorAutoritní záznam NK ČR

Věcné třídění

Bibliografické údaje

Nakladatel
PC-DIR Real
Vydáno
1994
Jazyk
Angličtina

Vydání

  • Tištěná kniha
    Brožovaná vazba

    978-80-85895-02-5 (brož.)

    Vydáno:

Související tituly

Od stejného autora

Nanovědy pro elektroinženýry

Vysoké učení technické v Brně

2013

Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích

NOVPRESS

2011

Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích

NOVPRESS

2010

Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích

Zdeněk Novotný

2009

Moderní diagnostika materiálů a součástek

Zdeněk Novotný

2008

Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích

Zdeněk Novotný

2007

Od stejného nakladatele

Technologie II

PC-DIR Real

2000

Setkání uživatelů souřadnicových měřicích strojů

PC-DIR Real

2000

Základy konstruování

PC-DIR Real

1999

Cvičení z matematické analýzy 1

PC-DIR Real

1999

Malé kogenerační jednotky v komunální a průmyslové energetice

PC-DIR Real

1999

Krajiny

PC-DIR Real

1999