Noise and reliability of semiconductor devices
proceedings of the International NODITO Workshop, [Brno], July, 18-20, 1995
Schauer PaveleditorAutoritní záznam NK ČRŠikula JosefeditorAutoritní záznam NK ČRVysoké učení technické v Brnědalší primární původceAutoritní záznam NK ČR
Věcné třídění
Bibliografické údaje
- Nakladatel
- Vysoké učení technické v Brně
- Vydáno
- 1995
- Jazyk
- Angličtina
Vydání
- Tištěná knihaBrožovaná vazba
978-80-214-0663-6 (brož.)
Vydáno: